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因此,使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu),甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu),比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的最小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬倍。 TEM在中和物理學(xué)和生物學(xué)相關(guān)的許多科學(xué)領(lǐng)域都是重要的分析方法,如癌癥研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、以及納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等等。 在放大倍數(shù)較低的時(shí)候,TEM成像的對比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對電子的吸收不同而造成的。 而當(dāng)放大率倍數(shù)較高的時(shí)候,復(fù)雜的波動作用會造成成像的亮度的不同,因此需要專業(yè)知識來對所得到的像進(jìn)行分析。 通過使用TEM不同的模式,可以通過物質(zhì)的化學(xué)特性、晶體方向、電子結(jié)構(gòu)、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。